dc.contributor.advisor | Hucek, Stanislav | |
dc.contributor.author | Bílý, Tomáš | |
dc.date.accessioned | 2021-12-07T10:29:20Z | |
dc.date.available | 2021-12-07T10:29:20Z | |
dc.date.issued | 2007 | |
dc.date.submitted | 2007-05-04 | |
dc.identifier.uri | https://dspace.jcu.cz/handle/20.500.14390/25977 | |
dc.description.abstract | Tato bakalářská práce je zaměřena na popis transmisní a skenovací elektronové mikroskopie. Jsou zde popsány fyzikální principy uplatňující se při tvorbě obrazu v elektronových mikroskopech, jednotlivé vady, jakož i metodika seřízení. Se zřetelem na výuku jsou blíže rozebrány základní části elektronových mikroskopů. Praktické provedení je ukázáno na mikroskopech JEOL: JEM-1010, JSM-7401F, JDM-6300. | cze |
dc.format | 77 s., 2 s. obr. příloh | |
dc.format | 77 s., 2 s. obr. příloh | |
dc.language.iso | cze | |
dc.publisher | Jihočeská univerzita | cze |
dc.rights | Bez omezení | |
dc.subject | SEM | cze |
dc.subject | TEM | cze |
dc.subject | Elektronová mikroskopie | cze |
dc.subject | Mikroskop | cze |
dc.subject | SE | cze |
dc.subject | BSE | cze |
dc.subject | Augerovy elektrony | cze |
dc.subject | Fonony | cze |
dc.subject | Plazmony | cze |
dc.subject | RTG | cze |
dc.subject | SEM | eng |
dc.subject | TEM | eng |
dc.subject | Electron microscopy | eng |
dc.subject | Microscop | eng |
dc.subject | SE | eng |
dc.subject | BSE | eng |
dc.subject | Auger electrons | eng |
dc.subject | Phonons | eng |
dc.subject | Plasmons | eng |
dc.subject | X-ray | eng |
dc.title | Fyzikální principy transmisní a skenovací elektronové mikroskopie | cze |
dc.title.alternative | Physical principles of transmission and scanning electron microscopy | eng |
dc.type | bakalářská práce | cze |
dc.identifier.stag | 6013 | |
dc.description.abstract-translated | This bachelor thesis focuses on the description of transmission and scanning electron microscopy. It describes physical principles and defects arising during image formation in electron microscopes as well as the methodology of adjustment. The basic parts of electron microscopes are looked into more closely herein with consideration to the lectures. Practical implementation is demonstrated on following microscopes JEOL: JEM-1010, JSM-7401F, JDM-6300. | eng |
dc.date.accepted | 2007-06-05 | |
dc.description.department | Pedagogická fakulta | cze |
dc.thesis.degree-discipline | Měřicí a výpočetní technika | cze |
dc.thesis.degree-grantor | Jihočeská univerzita. Pedagogická fakulta | cze |
dc.thesis.degree-name | Bc. | |
dc.thesis.degree-program | Elektrotechnika a informatika | cze |
dc.description.grade | Dokončená práce s úspěšnou obhajobou | cze |