Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.advisorŠerý, Michal
dc.contributor.authorKroupa, František
dc.date.accessioned2021-12-07T13:30:34Z
dc.date.available2021-12-07T13:30:34Z
dc.date.issued2011
dc.date.submitted2011-01-06
dc.identifier.urihttps://dspace.jcu.cz/handle/20.500.14390/28262
dc.description.abstractV této bakalářské práci je popsána realizace testeru rozhraní I2C, SPI a 1WIRE. V teoretické části je uveden jak popis těchto rozhraní, tak protokoly. V praktické části je pak uveden návrh zařízení a popis jeho funkce. Zařízení se skládá ze dvou hlavních částí, a to "master zařízení" (PC vizualizace ovládání testeru) a "slave zařízení" (mikrořadič ATmega-8 a FTDI 232). Funkčnost tohoto zařízení byla prakticky ověřena.cze
dc.format47 s. (35 101 znaků)
dc.format47 s. (35 101 znaků)
dc.language.isocze
dc.publisherJihočeská univerzitacze
dc.rightsBez omezení
dc.subjectpřístrojové sběrnicecze
dc.subjecthardwarové zapojenícze
dc.subjectpopis protokolůcze
dc.subjectmikropočítačcze
dc.subjectarchitekturacze
dc.subjectsériová komunikacecze
dc.subjectzařízení Testercze
dc.subjectpopis zařízení Tester mastercze
dc.subjectpopis zařízení Tester slavecze
dc.subjectdevice buseng
dc.subjecthardware wiringeng
dc.subjectspecification protocolseng
dc.subjectmicrocomputereng
dc.subjectarchitectureeng
dc.subjectserial communicationeng
dc.subjectdevice Testereng
dc.subjectspecification device Tester mastereng
dc.subjectspecification device Tester slaveeng
dc.titleTester periferních zařízení s mikropočítačem ATMEL AVRcze
dc.title.alternativePeriphery tester with Single chips AVR ATMEL acquisitioneng
dc.typebakalářská prácecze
dc.identifier.stag15850
dc.description.abstract-translatedThe objective of this Bachelor?s thesis was to design a tester of I2C, SPI and 1WIRE interfaces. In the theoretical part of the thesis, these interfaces as well as protocols are described. In the practical part, a design of the device and description of its functions are presented. The device is composed of two main components, a "master" (PC visualization of tester controlling) and "slave" (microcontroller ATmega-8 and FTDI 232). Function of the device was verified in practice.eng
dc.date.accepted2011-01-31
dc.description.departmentPedagogická fakultacze
dc.thesis.degree-disciplineMěřicí a výpočetní technikacze
dc.thesis.degree-grantorJihočeská univerzita. Pedagogická fakultacze
dc.thesis.degree-nameBc.
dc.thesis.degree-programElektrotechnika a informatikacze
dc.description.gradeDokončená práce s úspěšnou obhajoboucze


Soubory tohoto záznamu

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

Tento záznam se objevuje v

Zobrazit minimální záznam