| dc.contributor.advisor | Hucek, Stanislav | |
| dc.contributor.author | Bílý, Tomáš | |
| dc.date.accessioned | 2021-12-07T13:39:54Z | |
| dc.date.available | 2021-12-07T13:39:54Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.date.submitted | 2011-04-29 | |
| dc.identifier.uri | https://dspace.jcu.cz/handle/20.500.14390/28761 | |
| dc.description.abstract | Tato magisterská práce je zamerena na prozkoumání vlastní struktury zalévacího
média v nízkonapetovém transmisním elektronovém mikroskopu (LV TEM),
dále je zamerena na prozkoumání povrchové morfologie mikroskopem atomárních sil
(AFM) a skenovacím elektronovým mikroskopem (SEM). Je popsán princip
jednotlivých mikroskopu, zejména tvorba kontrastu a konstrukce LV TEM. V záveru
je zhodnocen vliv povrchové struktury zalévacího media na obrazový kontrast
v LV TEM a rozbor minimalizace jeho vlivu ve výsledném obrazu. | cze |
| dc.format | 110 s. | |
| dc.format | 110 s. | |
| dc.language.iso | cze | |
| dc.publisher | Jihočeská univerzita | cze |
| dc.rights | Bez omezení | |
| dc.subject | AFM | cze |
| dc.subject | SEM | cze |
| dc.subject | TEM | cze |
| dc.subject | LV TEM | cze |
| dc.subject | LV EM 5 | cze |
| dc.subject | zvlnění řezů | cze |
| dc.subject | AFM | eng |
| dc.subject | SEM | eng |
| dc.subject | TEM | eng |
| dc.subject | LV TEM | eng |
| dc.subject | LV EM 5 | eng |
| dc.subject | chatter | eng |
| dc.title | Rozptyl primárních elektronů na atomech zalévacího média biologického materiálu u nízkonapěťového transmisního elektronového mikroskopu LV EM 5 | cze |
| dc.title.alternative | Primary electron scattering on biological specimen embedding resins at low voltage transmission electron microscope LV EM 5 | eng |
| dc.type | diplomová práce | cze |
| dc.identifier.stag | 13895 | |
| dc.description.abstract-translated | This master thesis deals with researching the structure of embedding resin
in the Low-Voltage Transmission Electron Microscope (LV TEM). Further, it focuses
on researching the surface morphology by the Atomic Force Microscope (AFM)
and by the Scanning Electron Microscope (SEM). The principle of each
of the microscopes is explained ? the contrast formation and construction of the LV
TEM in particular. In the conclusion the evaluation of the effect of the surface structure
of the embedding resin on the image contrast in the LV TEM and the analysis
of the minimalization of its effect on the final image is given. | eng |
| dc.date.accepted | 2011-05-23 | |
| dc.description.department | Pedagogická fakulta | cze |
| dc.thesis.degree-discipline | Aplikovaná měřicí a výpočetní technika | cze |
| dc.thesis.degree-grantor | Jihočeská univerzita. Pedagogická fakulta | cze |
| dc.thesis.degree-name | Mgr. | |
| dc.thesis.degree-program | Elektrotechnika a informatika | cze |
| dc.description.grade | Dokončená práce s úspěšnou obhajobou | cze |
